Сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700HT
по запросу
Внимание! Ввиду нестабильности курса валюты, цена для КП рассчитывается оперативно по Вашему запросу с целью исключения предоставления недостоверной информации.
Основные характеристики:
Диапазон измерения | стандартный: 30мкм х 30мкм х 5мкм; опционные: 125 мкм х 125мкм х 7 мкм; 55 мкм х 55мкм х 13 мкм; 2.5 мкм х 2.5мкм х 0.3 мкм |
Наличие: Под заказ | |
Производитель | Shimadzu |
Модель | SPM-9700HT |
Диапазон измерения | стандартный: 30мкм х 30мкм х 5мкм; опционные: 125 мкм х 125мкм х 7 мкм; 55 мкм х 55мкм х 13 мкм; 2.5 мкм х 2.5мкм х 0.3 мкм |
Прочее | Разрешение горизонтальное : 0,2 нм; вертикальное 0,01 нм |
Сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп SPM-9700
Сканирующая зондовая микроскопия-метод исследования формы и локальных свойств поверхности твердого тела.
SPM-9700 позволяет проводить измерения методами атомно-силовой(AFM), магнитно-силовой(LFM), сканирующей туннельной микроскопии(STM), а также Кельвин-микроскопии (KFM).
Графический интерфейс в среде Windows обеспечивает полное управление прибором, анализ и документирование результатов.
C помощью SPM-9700 можно:
- получать трехмерное изображение рельефа поверхности образцов металлов, полупроводников, керамики, макромолекул и биологических объектов с увеличением в несколько тысяч или миллионов раз.
- измерять значения следующих физических свойств поверхности с пространственным разрешением в доли нанометра:
- механических (силу трения, адгезию, жесткость, эластичность),
- электрических (потенциал, проводимость),
- магнитных (распределение намагниченности).
Может использоваться в материаловедении, полупроводниковой промышленности, биологии, медицине, при физических и химических исследованиях.
Стандартные режимы работы:
- Контактный режим
- Режим латеральных сил
- Динамический режим
- Фазовый режим
- Режим силовой модуляции
- Силовая кривая
Опциональные режимы работы:
- Режим проводимости
- Режим поверхностного потенциала (кельвин-микроскопия)
- Магнитно-силовой режим (магнитно-силовая микроскопия)
- Силовое картирование
- Режим векторного сканирования
- Режим сканирования в слое жидкости
- Электрохимическая атомно-силовая микроскопия
Опции для расширения возможностей SPM-9700:
- Оптический микроскоп с цифровой камерой
- Волоконно-оптический осветитель
- Блоки широко/узко-форматного и глубинного сканирования
- Климатическая камера с нагревателем образцов, контролем температуры, влажности и газового состава атмосферы
- Программа анализа распределения частиц по размерам
ОТВЕТИМ НА ВОПРОСЫ
Мы поможем вам подобрать и купить необходимое оборудование для лаборатории. Группа компаний "Профлаб" работает с производителями напрямую, потому у нас объективные цены на всю продукцию и устройства!