ИК-спектрометр СпТЕNSОR II

Прибор TENSOR II предлагает комфортное и полное решение в вашем аналитическом рабочем процессе. Для выполнения анализа образцов, просто следуйте поэтапным указаниям интуитивно понятного программного обеспечения. Экономьте время благодаря доступному пробоотбору и превосходной чувствительности прибора при контрольных измерениях и с использованием наиболее подходящего метода для решения вашей аналитической задачи. Генерация полноценного отчета завершает цикл каждого анализа образца.

 
Эффективность, на которую вы можете положиться

Прибор TENSOR II был разработан для того, чтобы с использованием инноваций расширить преимущества общепризнанной серии спектрометров TENSOR. В качестве первого спектрометра в своем классе прибор TENSOR II оснащается современным диодным лазером. Кроме того, прибор TENSOR II обеспечивает новую функцию электронной стабилизации источника ИК-излучения. Эти функции значительно увеличивают срок службы двух основных изнашиваемых деталей в ИК-спектрометрах и дополнительно уменьшают затраты на обслуживание прибора.

 
Высочайшее качество при максимальной производительности

Отличная чувствительность прибора TENSOR II достигается высокой пропускной способностью хорошо зарекомендовавшего себя интерферометра RockSolidTM. Интерферометр управляется современной электронной платформой, что обеспечивает высокую устойчивость к механическим ударам и вибрациям.

 
Идеально подходит для расширенного ИК-анализа.

Прибор TENSOR II оснащается большим кюветным отсеком для образцов, чтобы разместить практически любой аксессуар для пробоотбора FTIR. Наряду с возможностью подключения внешних аксессуаров, таких как микроскоп FTIR исследовательского класса HYPERION, термогравиметрические весы или высокопроизводительное экранирующее устройство HTS-XT, предоставляются почти неограниченные возможности для пробоотбора.

При использовании внутренних или внешних аксессуаров прибор TENSOR II обеспечивает превосходное отношение «сигнал/шум», которое требуется при выполнении задач с высокими требованиями к чувствительности измерения.

 
Постоянно подтверждаемая производительность

Прибор TENSOR II автоматически и постоянно обеспечивает надежные результаты анализа. Все важные компоненты спектрометра, такие как интерферометр, источник излучения, детектор, постоянно проверяются. Периодически выполняемые тестовые измерения контролируют функциональность прибора TENSOR II в соответствии с его спецификацией.

 
Валидация

Прибор TENSOR II оснащен полной автоматизированной процедурой PQ (квалификация эксплуатации) и OQ (квалификация функционирования) для проверки прибора в сертифицированных фармацевтических лабораториях. Используя внутренние прослеживаемые эталоны NIST, прибор TENSOR II, по усмотрению, подвергается оценке пригодности в соответствии с американской, европейской и японской Фармакопеями. Программное обеспечение OPUS соответствует требованиям 21 CFR Раздел 11 (Свода Федеральных Правил).

Реализованные в приборах технологии защищены одним или несколькими из следующих патентов:
US 7034944; US 5923422; DE 19940981

 
Отлично сбалансированный дизайн прибора

Прибор TENSOR II сочетает в себе оптимально высокую светопроницаемость, большой кюветный отсек для образцов с компактностью прибора. Оптическая скамья надежно закреплена и защищена плотно закрытым корпусом премиум-класса из высококачественного структурного пенопласта, который обеспечивает отличную защитную жесткость.

 
Внешние аксессуары и параметры пробоотбора
Возможности пробоотбора прибора TENSOR II можно расширить, добавив дополнительный внешний канал пучка. Это позволяет подключать один или несколько внешних аксессуаров.

• FT-IR-микроскоп серий HYPERION
• FT-IR система визуализации HYPERION 3000
• eXTension с высокой пропускной способностью экранирования HTS-XT
• Акссесуары макросъемки с матрицей в фокальной области IMAC
• Модуль TGA
• PMA 50 для спектрометрии VCD и PM-IRRAS
• Внешний кюветный отсек для образцов; вакуумный или продувочный
• Внешняя сверхвысоковакуумная камера
• Интегрирующая сфера
• Автоматические пробоотборники жидкости

 

Усовершенствованная электроника
Технология DigiTect™ детектора от компании Bruker обеспечивает низкий электронный шум. Она основана на современных двухканальных дельтасигмах автоматического регулирования плотности изображения с реальным 24-битным динамическим диапазоном, встроенным в электронику предусилителя детектора.
Прибор TENSOR II предлагает уникальную функцию Power-Mode для улучшения отношения «сигнал-шум» при низком светопропускании со стандартным детектором DTGS.

 
Возможности расширения функций
Прибор TENSOR II может быть оснащен широкополосными светоделителями для расширения спектрального либо ближнего или дальнего инфракрасного диапазонов. Диапазоны источника и детектора могут быть легко заменены пользователем при необходимости. Благодаря электронному кодированию настройка параметров принимается автоматически.

Реализованные в приборах технологии защищены одним или несколькими из следующих патентов:
US 7034944; US 5923422; DE 19940981

Прибор TENSOR II удовлетворит ваши потребности в удобном контроле качества. Кроме того, прибор TENSOR II обеспечивает производительность, необходимую для решения задач с требованием максимальной чувствительности измерения - независимо от конфигурации. Неограниченное разнообразие внутренних и внешних измерительных аксессуаров дает возможность решения сложнейших задач в области промышленных и научных исследований.


Фармацевтика и медико-биологические науки

• Конформация и концентрация белка (с помощью CONFOCHECK)
• Высокочувствительная количественная оценка лекарств и эксципиентов в водных растворах
• Идентификация микроорганизмов
• Химическая визуализация биологической ткани (с помощью ИК-микроскопа HYPERION)
• Определение энантиомеров (с помощью спектрометра колебательного кругового дихроизма VCD)
• Исследование липидных и белковых монослоев на границе раздела воздух/вода
• Оценка стабильности и летучего содержания лекарственных препаратов посредством термического анализа
• Полимерные и химические соединения
• Визуализация химических неоднородных полимерных материалов и многослойных систем (с помощью ИК-микроскопом HYPERION)
• Определение летучих соединений и оценка процессов разложения методом термического анализа
• Мониторинг реакции в лабораторных условиях (с помощью волоконно-оптического датчика MIR)
• Анализ поверхностей
• Обнаружение и оценка тонкослойных и монослойных материалов
• Оценка коррозионных процессов
• Исследование однородности покрытий путем химической визуализации (с помощью ИК-микроскопа HYPERION)
• Строительные материалы
• Оценка кирпичных материалов методом термического анализа

Полимерные и химические соединения

• Визуализация химических неоднородных полимерных материалов и многослойных систем (с помощью ИК-микроскопом HYPERION)
• Определение летучих соединений и оценка процессов разложения методом термического анализа
• Мониторинг реакции в лабораторных условиях (с помощью волоконно-оптического датчика MIR)

Анализ поверхностей

• Обнаружение и оценка тонкослойных и монослойных материалов
• Оценка коррозионных процессов
• Исследование однородности покрытий путем химической визуализации (с помощью ИК-микроскопа HYPERION)

Строительные материалы

• Оценка кирпичных материалов методом термического анализа

Материаловедение

• Определение излучательной способности строительных материалов
• Оценка оптических материалов (окон, зеркал)
• Исследование темных материалов методом фотоакустической спектроскопии PAS

Силиконовые изделия

• Определение содержания кислорода и углерода в целях контроля качества

Изучение и оценка свойств почвы

• Оценка почвенных питательных и органических веществ
• Оценка почв