Спектрофотометр УФ-ВИД-БлИК спектрофотометры SolidSpec-3700/3700 DUV, SolidSpec-3700i/3700i DUV
Основные характеристики:
Скорость | сканирования длины волны: Максимально 3600 нм/ в минуту для ФЭУ и InGaAs-детектора Максимально 1600 нм/ в минуту для PbS-детектора |
Диапазон измерений | спектральный: от 165 до 3300 нм. |
по запросу
Внимание! Ввиду нестабильности курса валюты, цена для КП рассчитывается оперативно по Вашему запросу с целью исключения предоставления недостоверной информации.
Наличие: Под заказ | |
Производитель | Shimadzu |
Модель | SolidSpec-3700/3700 DUV, SolidSpec-3700i/3700i DUV |
Скорость | сканирования длины волны: Максимально 3600 нм/ в минуту для ФЭУ и InGaAs-детектора Максимально 1600 нм/ в минуту для PbS-детектора |
Диапазон измерений | спектральный: от 165 до 3300 нм. |
Управление спектрофотометрами SolidSpec-3700/3700 DUV обеспечивает программное обеспечение UVProbe.
В случае ПО LabSolutions UV-Vis помимо функций измерения и анализа доступна возможность оценки результатов измерения (критерий соответствия/несоответствия). Простой экспорт данных в текстовый или табличный формат повышает эффективность работы.
Дополнительное ПО для всех спектрофотометров:
- ПО для расчета фактора защиты от УФ излучения (UPF) и для измерения пропускания солнечного света
- ПО для измерения цветности
- ПО для измерения толщины пленок
- Высокая чувствительность
Это первые спектрофотометры для УФ-видимого и ближнего ИК-диапазона с тремя детекторами: ФЭУ + полупроводниковые на основе InGaAs и PbS. Полупроводниковые детекторы обеспечивает чрезвычайно высокую чувствительность на границе ближней ИК-области и видимого диапазона. Низкие значения шума при работе с малопрозрачными образцами делают данный спектрофотометр незаменимым. Эта особенность неоценима при исследовании плохо отражающих образцов, например, оптических волоконных материалов.
- Измерения в вакуумном УФ
Дополнительный модуль для прямого измерения в ультрафиолете (Direct detection unit DUV) позволяет расширить данный диапазон от 165 до 3300 нм и проводить измерения без использования интегрирующей сферы.
- Работа с большими образцами
Применение
- Исследование покрытий:
- Полупроводники:
- Оптические материалы:
Технические характеристики
Спектральный диапазон |
SolidSpec-3700/3700i: стандартные модели 240–2600 нм; с использованием приставки для прямого детектирования 190–3300 нм. |
Спектральная ширина щели |
8-ступенчатая: 0,1; 0,2; 0,5; 1; 2; 3; 5; 8 нм в УФ/видимой области |
Разрешение(*) |
0,1 нм |
Шаг по длине волны |
от 0,01 до 5 нм |
Точность отображения длины волны |
шаг 0,01 нм |
Погрешность установки длины волны(*) |
± 0,2 нм в УФ / видимой области |
Воспроизводимость длины волны(*) |
± 0,08 нм в УФ/видимой области |
Скорость сканирования длины волны |
Максимально 3600 нм/ в минуту для ФЭУ и InGaAs-детектора |
Переключение ламп |
Автоматическое переключение (можно выбрать в интервале между 282 и 393 нм с шагом 0,1 нм) |
Уровень рассеянного излучения(*) |
< 0,00008% (220 нм, NaI) |
Уровень шума |
0,0002 Abs или менее (500 нм) |
Колебания базовой линии |
± 0,003 Abs (от 240 до 350 нм), |
Дрейф |
SolidSpec-3700/3700i 0,0002 Abs/час (после 2 часов прогрева прибора, 500 нм, постоянная времени 1с) |
Источники света |
50 Вт галогенная лампа (2000 часов работы) |
Монохроматор |
Двойной монохроматор с дифракционными решетками |
Детекторы |
УФ/видимая область: ФЭУ (типа R928 для SolidSpec-3700/3700i, R955 для SolidSpec-3700 DUV/3700i DUV) |
Фотометрический диапазон |
от –6 до 6 Abs |
Оптическая схема |
Двухлучевая |
Размеры, масса |
1000 x 800 x 1200 мм (Ш х Г х В), 170 кг |