ИК-спектрометр VERTEX70/70v

VERTEX 70 открывает широчайшие возможности для решения сложных аналитических и исследовательских задач. Сбор данных осуществляется с помощью двух 24-битных аналого-цифровых преобразователей, которые встроены в предусилитель детектора и работают параллельно. Передовая технология DigiTect предотвращает появление помех и обеспечивает высокое соотношение сигнал/шум.

Оптическая система VERTEX 70v вакуумирована, за счет чего достигается максимальная чувствительность в ближнем, среднем и дальнем инфракрасном диапазоне. Кроме того, исключено перекрытие слабых сигналов полосами поглощения воды или углекислого газа. Вы можете использовать эти спектрометры для изучения нанообъектов вплоть до монослоев.

Уникальный комплект VERTEX FM позволяет регистрировать спектры в диапазоне от 6000 см^-1 до 80 см^-1 (и до 50 см^-1 в случае вакуумного спектрометра VERTEX 70v) без смены оптических компонентов.

VERTEX 70 и 70v могут быть укомплектованы дополнительными оптическими компонентами для расширения спектрального диапазона до следующих значений: от дальней инфракрасной области 15 см^-1 (10 см^-1 для VERTEX 70v) до видимой и ультрафиолетовой (28000 см^-1). Расширить спектральный диапазон можно самостоятельно, поскольку оптические компоненты преднастроены на заводе, а интерферометр RockSolid не требует настройки.

ИК-Фурье анализ становится быстрым, простым и надежным благодаря системе интеллектуальных функций, таких как распознавание модулей для образцов и оптических узлов, автоматическая установка и проверка параметров измерения. Состояние всех узлов спектрометра постоянно контролируется с помощью специального программного обеспечения, что упрощает работу со спектрометром  и диагностику неисправностей.

В любой точке мира стоит лишь подключить питание и кабель Ethernet – и спектрометр VERTEX 70 готов к работе. Кроме того,  вы можете удаленно контролировать работу спектрометра по локальной сети или через Интернет.

VERTEX 70/70v – это идеальный спектрометр для решения сложных научно-исследовательских задач.

Используемые технологии защищены одним и несколькими из перечисленных патентов:
US 7034944; US 5923422

VERTEX 70v идеально подходит для исследовательских задач, где требуется высокая чувствительность, стабильность и временное разрешение. Широкий спектральный диапазон вплоть до области дальнего ИК / THz позволяет решать специфические задачи для исследований в промышленности. Универсальная система VERTEX 70v в сочетании с подходящими модулями  и использованием соответствующей техники измерений обеспечивает решение практически любой задачи в области ИК-спектроскопии.

• Технология непрерывного и пошагового сканирования для спектроскопии с высоким временным разрешением, а также для спектроскопии с амплитудной (AM) и фазовой модуляцией (PM) (Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
• FT-IR спектроскопии при сверхвысоком вакууме
• FT-IR спектроэлектрохимии для исследования in-situ поверхности электродов и электролитов
• Исследование белков в воде (CONFOCHECK)
• Определение простванственной конфигурации молекул (VCD)

• Характеристика стабильности и летучих соединений в составе лекарственных препаратов с помощью термического анализа (TGA-FT-IR)
• Дифференциация полиморфов активных фармацевтических ингредиентов в дальнем инфракрасном диапазоне (Bruker FM)

• Идентификация неорганических наполнителей в полимерных композитах в дальнем инфракрасном диапазоне (Bruker FM)
• Динамические и реооптические исследования полимеров
• Определение летучих соединений и характеризация процессов разложения с помощью термического анализа (TGA-FTIR)
• Мониторинг реакции и контроль реакции (волоконный зонд MIR)
• Идентификация неорганических минералов и пигментов

• Обнаружение и характеризация тонких слоев и монослоев
• Анализ поверхности в сочетании с модуляцией поляризации (PM-IRRAS)

• Характеризация оптических материалов, а так же материалов с высокой отражающей способностью (окна, зеркала)
• Исследование темных материалов и профилирование глубины методом фотоакустической спектроскопии (PAS)
• Характеризация излучательной способности материалов

• Определение содержания кислорода и углерода в кремниевых пластинах для контроля качества