Модуль HTS-XT

Планшет для образцов соответствут стандантым форматам на  96, 384 или 1536 ячеек. Для осуществления анализа 1-20 µл образца помещают в ячейку и высушивают. Объем образца зависит от его формы, режима измерения и конфигурации планшета. Твердые образцы сначала высушивают и уплотняют перед помещением в планшет. Заполненный планшет при помощи моторизированного устройства подается в предварительно осушенный спектрометр. После чего измерение микропланшета осуществляется в автоматическом режиме как на пропускание, так и на отражение, путем перемещения позиции каждого образца в фокус ИК-луча.

HTS-XT использует ПО OPUS/LAB для автоматической регистрации спектров и анализа большого количества образцов. Для количественного анализа нескольких компонентов в сложных системах используют современные методы многопараметрического анализа PLS (Partial Least Squares). Для качественного анализа доступны такие алгоритмы анализа как корреляция спектров, PCA (Principal Component Analysis) и ANN (Artifical Neural Networks). Хранение параметров измерения и результатов анализа в logfile позволяет осуществлять перенос данных во внешние программы или системы  LIMS (Laboratory Information Management Systems).

Основным преимуществом ИК-спектроскопии является то, что информация о молекулярной структуре содержится в каждом ИК-спектре. Несмотря на то, что высокопроизводительные методы обычно используют специфические маркеры для анализа определенных параметров, ИК-анализ на микропланшете позволяет получать информацию о молекулярной структуре без их использования.
ИК-Фурье спектроскопия также позволяет одновременно определять несколько параметров за одно измерение!

Применения

• Идентификация микроорганизмов
• Определение загрязнений
• Характеризация клеток
• Анализ почв
• Идентификация и определение типа алмазов