Дифрактометр D8 DISCOVER

5 звезд - основано на 5 отзывах

Цена:
по запросу

Наличие: Под заказ

Внимание! Ввиду нестабильности курса валюты, цена для КП рассчитывается оперативно по Вашему запросу с целью исключения предоставления недостоверной информации.

Производитель: Bruker

Основанный на платформе D8 дифрактометр D8 DISCOVER имеет открытую модульную архитектуру.

Характеристики

Производитель

Bruker

Прочее

Конфигурации: Горизонтальный или вертикальный гониометр, Theta/Theta или Theta/2Theta геометрия / Диаметр измерительного круга (в зависимости от детектора) :3 — 160 ° 2Theta / Точность определения положения пика:± 0.02° во всем измерительном диапазоне / Мин. ширина пика (FWHM): < 0.05° / Юстировка: Не требуется, настроен предприятием - изготовителем / Материалы анода: Cr / Co / Cu, стандартная керамическая отпаянная рентгеновская трубка / Рентгеновский генератор: 30 кВ / 10 мА / Детекторы: Сцинтилляционный счетчик Линейный детектор LYNXEYE / Конструкция прибора: Портативный, настольный / Размеры: 61 x 60 x 70 см (в x ш x г) / Вес: 95 кг / Электропитание: 90 – 250 В / Внешнее водяное охлаждение: Не требуется / Компьютер: Встроенный, Возможен дополнительный ПК, подключенный к интерфейсу LAN / Интерфейсы: 2 x USB и 1 x LAN

Описание Дифрактометр D8 DISCOVER

Основанный на платформе D8 дифрактометр D8 DISCOVER имеет открытую модульную архитектуру. D8 DISCOVER имеет специализированные конфигурации для рефлектометрии и прецизионных исследований. D8 DISCOVER может быть использован как в промышленности, так и для решения научных задач в том числе: контроль качества, разработка новых технологий изготовления тонких пленок, эпитаксиальных слоев, материалов для микро и наноэлектроники.

Градиентная параллельно-лучевая оптика – зеркала Гёбеля обеспечивает высокую интенсивность параллельного пучка рентгеновского излучения, необходимого для анализа тонких пленок
Такие модули, как автоматический поглотитель, позволяет упростить процесс съемки
Сменные монохроматоры обеспечивают возможность анализа различных материалов
Современные столики для образцов и разнообразные подвески Эйлера делают более удобным и гибким проведение микродифракционных измерений, анализ остаточных напряжений и текстуры. Для проведения рентгеновской рефлектометрии существуют специальные прободержатели, в том числе для проведения температурных исследований
Модуль Ultra GID предназначен для исследования нанометровых эпитаксиальных слоев
Позиционно-чувствительный детектор VANTEC-1 существенно ускоряет съемку карт обратного пространства
Аналитические пакеты LEPTOS и MULTEX Area дают возможность обрабатывать данные измерений рефлектометрии, остаточных напряжений, микродифракции, дифрактометрии высокого разрешения

Скачать буклет D8 DISCOVER Рентгеновский дифрактометр

ОТВЕТИМ НА ВОПРОСЫ

Мы поможем вам подобрать и купить необходимое оборудование!

8 (800) 100-98-81